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ネオアーク(株)

住所 〒192-0015
東京都八王子市中野町2062-21
TEL 042-627-7432
FAX 042-627-7427
URL http://www.neoark.co.jp
E-mail info@neoark.co.jp
設立年 1976年
資本金 40,000,000円
従業員数 40名
代表取締役社長 阪江 修
  最終更新日:2023年07月31日

OPIE '24 出展の見どころ

「OPIE`24」ではネオアークの技術をお見せする「ネオテクノロジーコーナ」をブースの一部に設けます。
ネオアークの技術を生かして開発された製品を出展いたしますので、ぜひお気軽にお立ち寄りください。
又、オアークを代表する以下の製品も出展いたします。
【低価格ながら75mm×30mmのサンプルに対応】マスクレス露光装置「新型モデル」(開発中)
【フォトリソをもっと身近に】マスクレス露光装置
【超低ノイズで1.4Aまでの電流駆動が可能】超低ノイズ温調付きLDドライバ
【固体の複素屈折率評価】デュアルコム分光装置・光周波数コム
【曲面・球面の露光対応】3次元形状レーザ露光装置  (新製品)
【高い安定性を持小型でリーズナブルな半導体レーザ光源】温度安定化型半導体レーザ&新型LDドライバ
【広いエリアの傷を瞬時に検出!】傷検査光源
【国内唯一のHe-Ne自社製造!】周波数安定化He-Neレーザ

その他製品のカタログ等もご用意しております。

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企業PR

1975年設立より、国内でレーザ開発とその製造から、光応用機器(レーザ機器)の専門メーカーとして研究・産業分野に役立てる製品を納入して参りました。
主に、「He-Neレーザ・レーザマーキング・磁気光学特性・振動計・露光装置・光コム」及び特注の光特性評価といった「光/レーザ光」を用いた機器を一つ一つの要望に応じて、開発し製造・販売をしております。
今後は、より専門性を追求し、高度な光技術をもった技術開発メーカーとして各分野へ貢献できる製品づくりに専念し、そして優しい製品を国内外へ提供できる会社であり続けます。

ネオアーク(株) 取り扱い製品

マスクレス露光装置 PALET

マスクレス露光装置 PALET

今や半導体などのエレクトロニクス産業だけでなく、物性研究、バイオテクノロジー、デバイス開発などあらゆる分野で利用されるMEMS技術。その代表格であるフォトリソグラフィを、卓上で、手軽に、思いのままに行えるのがマスクレス露光装置PALET(パレット)です。
設置場所を選ばない装置サイズ、マスクレス露光装置の常識を破る価格設定、思いついたパターンをその場で形にできるシンプルな操作性は、トライ&エラーが必要不可欠な研究・開発用途に最適です。

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LEDマルチラインプロジェクタ

LEDマルチラインプロジェクタ

「形状を非接触でかつ自動で測りたい、数値化したい、低価格で」
製造や品質検査の現場から聞こえてきます。そのような皆様の声にお応えするため、ネオアークは計測用光源となるLEDマルチラインプロジェクタを開発しました。光強度、波長、投影パターン、エリアなど現場に適した光源をご提供できます。また、話題のRaspberry Piと組み合わせた簡易な形状測定デモも行っています。ぜひ一度お問い合わせください。

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光周波数コム

光周波数コム

エルビウムファイバをゲイン媒質としたモード同期ファイバレーザです。
パルス間隔(繰り返し周波数frep)とキャリア・エンベロープ・オフセット(fCEO)は、GPSなどの安定な周波数標準に同期することが可能です。
光周波数測定、長さ計測、テラヘルツ波発生などにご利用いただけます。
本製品は、産業技術総合研究所・計測標準研究部門よりノウハウの提供を受けて開発されました。

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同軸型He-Neレーザ

同軸型He-Neレーザ

He-Neレーザは、レーザ媒質にHe-Ne混合気体を封入したガスレーザで、線幅が狭い、空間モードがガウス分布に近似といった特長を有しています。これらの特長から、光学実験や高精度位置決め、各種計測分野等で使用されております。
ネオアークでは、国内唯一の商業用He-Neレーザメーカとして自社製造を続けており、今回新たに他社同等品との取付互換性を向上させたφ45シリーズを追加しました。

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よう素安定化He-Neレーザ

よう素安定化He-Neレーザ

レーザ共振器内のガスセルに封入された、よう素分子の吸収スペクトルの超微細構造線(飽和吸収線)に、He-Neレーザの発振周波数をロックさせる事で周波数を安定化する、周波数安定化He-Neレーザの最高峰です。発振周波数標準不確かさは、2.5×10-11(1992年CIPM勧告に準拠)で、高精度かつ実用的な長さの標準として使用されています。

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ファイバカップリングLDマーキング

ファイバカップリングLDマーキング

「ファイバカップリングLDマーキング」は、製材・鉄鋼・縫製等の様々な工程で、レーザによる非接触位置決めが可能な製品です。光ファイバ方式を採用する事でレーザ出射部とコントロールボックスを分離し一つのコントロールボックスで3本のラインを同時照射する事が可能です。更にLDユニットをモジュール化する事で、レーザ交換作業の手間を減らせる上、3本のライン色を任意に交換可能という利便性をもたらしました。

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赤外He-Neレーザ

赤外He-Neレーザ

レーザ光は、単色性や指向性、高エネルギ密度という優れた性質から、多方面で干渉計や光学部品の検査などに活用されています。
ネオアークの赤外He-Neレーザシリーズは、光通信等に使用される近赤外から、ガス分析、サーモイメージセンサ等に使用される中赤外まで1.15μm,1.52μm,3.39μの3種類の波長のレーザをご用意しています。
波長毎にいくつかの出力をご用意していますので、ご用途・ご予算に応じたご選択が可能です。

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表面速度センサ「ipSPEEDOR アイピースピーダ」

表面速度センサ「ipSPEEDOR アイピースピーダ」

本製品は、小型センサヘッドに構成したホモダイン方式のレーザ面内速度センサで、ケーブルで接続される周波数トラッカーからは速度電圧と移動距離ごとのパルス列(ピッチ信号)を出力します。
速度電圧は搬送機等の速度制御に利用可能で、またピッチ信号はパルス列を計数することで試料の送り長や巻き取り長を計測できます。
【仕様】
検出速度範囲   :0.03 ~ 3.5m/sec(1.8 ~ 210m/min)
検出エリア    :40µm×2.5mm(作動距離中点のビーム形状)
外 寸      :約30mm(W)×102.5mm(D)×35.5mm(H)
分解能(ピッチ間隔):10µm(最小ピッチ間隔1.1µm信号あり)
作動距離     :18.5mm

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周波数安定化He-Neレーザ

周波数安定化He-Neレーザ

ネオアークの周波数安定化He-Neレーザ「HNHー4502STB」は、He-Neレーザの2つのモードを制御することで、レーザ光の発振周波数を高い精度で安定化しています。周波数安定化レーザーでありながら小型、高出力です。
測長・干渉計等様々な計測用光源として使用可能です。
ネオアークではこの他にも、光周波数コム、よう素安定化He-Neレーザ等光の波長や周波数の基準となる各種光源を取り扱っております。

【仕様】
レーザ出力:1.2mW以上(1モードの出力)
周波数安定度:1×10-8以下(8時間)

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新型_温度安定型半導体レーザ TCSQ2・LDドライバDPS6020

新型_温度安定型半導体レーザ TCSQ2・LDドライバDPS6020

温度安定化型半導体レーザはレーザヘッド内部にレーザダイオード素子周辺の温度を制御するためのペルチェ素子(TEC)を内蔵することにより、安定した波長・出力のレーザを発振させると同時に対環境性能を高めた半導体レーザ光源製品です。従来型レーザヘッド(旧型名:TCSQ シリーズ)と比較し、光軸角度などの性能を改善しつつレーザヘッド部(新型名:TCSQ2 シリーズ)を約 1/2 サイズへ大幅に小型化。OEM・組み込み用のレーザ光源としての利便性を向上させました。また従来型コントローラ(旧型名:DPS-5004)を刷新し、多彩な機能を盛り込んだリーズナブルな価格設定の新型コントローラ(新型名:DPS-6020)をご用意しています。

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傷検査用スキャニングレーザ  LaScan

傷検査用スキャニングレーザ LaScan

傷検査用スキャニングレーザ”LaScan”は、マイクロサイズのレーザラインをスキャンさせて、広いエリアの微小な傷を瞬時に検出することが可能な光源です。半導体ウェハ、ハードディスク基板、およびDVDディスクなどの検査装置に組み込んでご使用いただけます。

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3次元形状レーザ露光装置

3次元形状レーザ露光装置

フォトリソグラフィは幅広い分野で活用されていますが、一般的に平面ワークに対して行われています。
しかし、デバイスの小型化、高性能化、デザイン性向上への対応は著しく、今までの平面に対するフォトリソでは不十分な状況が増えてきており、3次元形状に対するフォトリソグラフィの実現が期待されてきました。
本装置は5軸ステージを制御することで様々な3次元形状のワークに対して任意のパターンを露光することが可能となり、次世代の製品を見据えた研究開発に活用することができます。

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プローブ型 磁気光学Kerr効果 測定ユニット(開発中)

プローブ型 磁気光学Kerr効果 測定ユニット(開発中)

既にお持ちの電磁石を活用し、検出部を電磁石磁極間に配置して磁気光学Kerr効果を測定するユニット製品です。
プローブ部分を回転させることにより垂直/面内磁場印加によるループ測定が可能です。
(面内/垂直成分分離オプション有)
●Kerr効果検出感度
0.005deg以下 *条件による
●プローブ直径 22mm
*対応可能な電磁石の磁極間隔 要22mm以上

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