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最終更新日:2023年05月31日 |
高配向性膜をスパッタ法で形成可能な高純度・高密度GaNターゲットを開発しました。
従来のスパッタリング装置へ装着が可能です。ターゲットサイズは最大Φ12inchiの作製実績があります。
膜特性
・スパッタ法(RF、DC、PDC対応)にて、従来のCVD法のような格子縞が観察できるエピタキシャル成長が可能です。
・GaNターゲット中の不純物を低減したことにより、スパッタ法にて透明かつ、極めてシャープなXRC半値幅(FWHM=0.003º)を持つ配向膜の成膜が可能です。