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東明技研(株)

住所 〒362-0081
埼玉県上尾市壱丁目北19-11
TEL 048-725-1193
FAX 048-725-9993
URL https://www.toumeigiken.com/
E-mail info_akion@toumeigiken.com
設立年 1985年
代表取締役 鈴木 清三
  最終更新日:2023年02月14日

企業PR

東明技研は、レーザー干渉計を中心とする光計測機の開発・製造・販売を行うメーカーです。
また、高精度(λ/20)な基準球面(TS)、基準平面(TF)、及び超精密平面、球面のガラス研磨加工品を提供しております。
更に、お客様のご要望にお応えするMTF測定機、SFR調整機などのカスタム光計測技術の開発・製作、
及びレーザー光学系などの光学設計・製作も手掛けております。
お気軽にご相談ください。

東明技研(株) 取り扱い製品

レーザー干渉計

レーザー干渉計

東明技研は独自の干渉計Akionの製造・販売を行っております。入射口径は4”(Φ100mm)、6"(Φ150mm)、1.5"(Φ38mm)などの多種フィゾー型レーザー干渉計のラインナップを揃えております。
基準レンズ(TS)、基準平面(TF)を使用して、小口径から大口径のレンズ、ガラス平面、ウェハ、ミラーなどの研磨面をλ/20の高精度で測定評価が可能となります。

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基準レンズ(参照レンズ)

基準レンズ(参照レンズ)

◆各社レーザー干渉計と互換性のある口径Φ100mm、及びΦ60mmの高精度基準レンズ(λ/20)を豊富なラインナップで取り揃えており、広範囲な曲率半径・口径のレンズの面精度評価が可能です。
◆非球面、シリンダ面など球面以外の特殊面評価に対応した基準ホログラム素子(CGH)の設計、製作を短納期、低価格で提供可能です。
◆形状測定機などの各種測定機用の基準平面、基準球面の校正原器を提供可能です。

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干渉縞解析装置

干渉縞解析装置

弊社の干渉縞解析装置IFMは、レーザー干渉計で観察される干渉縞像から、研磨面の面精度や光学素子の透過波面精度を数値化、可視化することで品質管理にお役立ちします。 
IFMは画像処理技術の導入により測定精度を向上し、様々なニーズに対応する解析機能を、簡単な操作で実行できる最新の干渉縞解析装置です。
ご所有の様々な干渉計に本解析装置IFMを搭載し、レトロフィット(旧型を改良)にも対応いたします。

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カスタム光学測定機

ユーザーのご要望にお応えしたMTF測定機、撮像センサー位置調整用のSFR調整機、シャックハルトマン方式の波面測定機、レンズ外観検査機などのカスタム光学測定機の開発も行っております。
お気軽にご相談ください。

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光学設計・製作

レーザー光学系、FAレンズなどの各種光学系の光学設計、製作をお引き受けします。1台からの製作でも可能です。

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