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キヤノンマーケティングジャパン(株)

住所 〒108-8011
東京都港区港南2-13-29
TEL 03-3740-3334
FAX 03-3740-3346
URL http://canon.jp/
E-mail keisokubunseki@canon-mj.co.jp
課長 余語俊一
  最終更新日:2024年02月27日

OPIE '24 出展の見どころ

米国アプレ社の"SCI光源" + "Sシリーズ干渉計"と、独国gbs社の白色干渉式の光学プロファイラー"smartWLI extended range"の実機を展示します。アプレ社の小口径干渉計は、球面/非球面の中間周波数領域(MSF)の高品位計測が可能。この計測技術に関しては、出展社技術セミナーでご紹介。"smartWLI extended range"は、 5mmのメカニカルな垂直走査が可能なセンサー。

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キヤノンマーケティングジャパン株式会社 産業機器事業部 第二営業本部 では、海外メーカーの最先端の計測機器・分析機器、キヤノン製コンポーネント、3Dプリンタ等の販売及び技術サポートを行っています。以下、メーカー毎の代表的な取り扱い製品を紹介します。

・Äpre Instruments [米] : ÄPRE干渉計Sシリーズ、干渉計アップグレード、REVEALソフトウエア、
各種光源オプション、SpectrÄ(SCI光源、周波数制御干渉法)、ÄTLas(波長変調レーザー光源)
・DIOPTIC [独] : 回析光学素子(シリンダー面、非球面の計測のための干渉計オプション)
・GBS [独] : 光学式3次元表面プロファイラーsmartWILシリーズ(白色干渉方式の三次元表面性状の計測機)
・Sigray [米] : XRF (蛍光X線装置)、nanoXRM (X線CT装置) 、XAS (X線吸収分光法装置)、microXRM (X線CT装置)
・キヤノン株式会社: ガルバノスキャナ、エンコーダ、レーザードップラ速度計、表面反射アナライザ、非接触測長計、エアベアリング、石英ナノ加工、CMOSイメージセンサー、マシンビジョン(2D , 3D )
・3D Systems [米] : 金属粉末焼結3Dプリンタ(DMP)、樹脂粉末焼結3Dプリンタ(SLS)、光造形3Dプリンタ(SLA)    
・KAEL [韓] : ケミカルフィルター(半導体各種製造装置向け)

取扱海外企業

  • Apre Instruments,Inc. (USA)
  • GBS mbH (Germany)
  • DIOPTIC (Germany)
  • Sigray (USA)
  • 3D Systems (USA)
  • KAEL (Korea)

キヤノンマーケティングジャパン(株) 取り扱い製品

Äpre社 干渉計 Sシリーズ

Äpre社 干渉計 Sシリーズ

・光学部品のレイアウトと品質の最適化により、干渉縞の増加に伴う干渉計内部のリトレースエラーを最小化、干渉縞に依存しない高精度なデータ、選べる測定口径、独自の外部光源オプション
-コマ収差を最小化:0.012WavePV@1.5Fringe/mm Tilt
-干渉縞0本と500本での差分で、λ/20未満
・回折限界までの優れたイメージング分解
-8本/mm@4.2MPixカメラ
-100μm/100mm口径
・検出干渉縞本数の最大化
-650本/100mm口径
・過酷な振動環境対応キャリアフリンジ測定モード
・REVEALソフトウェア(日本語対応、無償アップグレード)

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Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

白色フィゾー干渉計のための、Äpre社の特許技術のオプション光源。SCI(周波数制御干渉法)光源は、素早く、簡単にアライメント -> 干渉縞分離 -> 測定が可能です。透明な光学部品に掛かる計測時間を短縮し、測定精度も向上します。
・コヒーレンズの選択で、表裏面の干渉縞を個別に計測
・633nmの中心波長のスペクトルで、キャビティ長と位相を制御
・75umから500mmの物理的なキャビティ長に対応
・各種平面基板、プリズム、ドーム、直接的な曲率半径計測、固定キャビティ(内部干渉縞)、大口径オプティクス

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gbs社 3次元光学プロファイラー smartWLI extened range

gbs社 3次元光学プロファイラー smartWLI extened range

GBS光学式3次元表面プロファイラーは、レンズ金型などの精密加工部品、自動車部品、電子部品、機能材料などの製造工程や品質検査において、表面の凹凸、傷、節目などの表面性状を非接触で測定する計測機器です。三次元表面性状測定の国際規格ISO25178-6(国内規格JIS B0681-6)である垂直走査型低コヒーレンス干渉法(CSI)は、観察視野(干渉対物レンズの倍率)に依存しない高い垂直(凹凸)感度が特長です。GBS smartWLIシリーズには、製造現場でのインライン検査、大型の対象物を計測するオンマシン計測、エンジンシリンダーの内壁計測に求められる計測器があります。

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DIOPTIC社 光学回折素子(DFNL、DTS、DTC)

DIOPTIC社 光学回折素子(DFNL、DTS、DTC)

レーザー干渉計に取り付ける“回折光学素子”により、あらゆる形状の量産計測を非接触・短時間に実現。​

DIOPTIC社製光学回折素子(DFNL、DTS、DTC)は、従来の“TS(球面原器)”と同じ使い勝手で使用が可能。       

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キヤノン 受託微細加工サービス

キヤノン 受託微細加工サービス

キヤノン製KrFスキャンニングステッパーと半導体プロセス装置を活用し、試作・開発から量産までお客様のご要望される微細加工を実現します。
石英,Siなど多様な基板の加工が可能です。
充実した設備と熟練のスタッフによる自社一貫工程で、試作から量産まで、皆さまの新技術・商品開発に貢献します。まずはお気軽にお問い合わせください。

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5M グローバル電子シャッタ CMOSセンサー

全画素を同時に露光するグローバルシャッター機能を搭載したCMOSセンサーです。

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1.2億 超高精細 CMOSセンサー

フルHDの約60倍にあたる1億2000万画素の超高精細CMOSセンサーです。

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35mmフルサイズ 超高感度CMOSセンサー

低照度の環境でも鮮明な動画撮影が可能な、超高感度のCMOSセンサーです。

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非接触測長計 PD-704

非接触測長計 PD-704

非接触式で生産ラインの搬送物の移動量や速度を高精度に測定できる計測機器です。生産ラインの送りをモニタリングすることで、材料や部品などの効率的な搬送と生産性向上に貢献します。また、キヤノン独自のプロファイルマッチング方式を採用し、対象物の加速度100Gまで追従が可能。プレス現場など急加減速が発生するような生産ラインでも高精度に安定した測定を実現します。光源には白色LEDを採用しており安全にご使用いただけます。

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