OPTRONICS

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製品カテゴリー

A. 材料
A-1素材
A-2加工用・その他材料
B. 素子・部品
B-1レンズ
B-2ミラー
B-3プリズム
B-4フィルタ
B-5その他の光学素子・部品
B-6レーザ発振器
B-7レーザ用部品 (機器,材料を含む)
B-8発光ダイオード
B-9光源 (光源装置を含む)
B-10ディスプレイパネル
B-11受光素子・複合素子
B-12光ファイバ・ケーブル
B-13光受動部品・制御部品
B-14集積型光部品
C. 機器・装置
C-1光伝送機器・装置
C-2光測定器・光学測定器
C-3分光器・干渉計
C-4顕微鏡・望遠鏡
C-5レーザおよび光利用センシング機器
C-6光ファイバ利用センシング機器
C-7光ディスク・光カード
C-8光情報機器
C-9医用機器・装置
C-10産業用レーザ装置 (システムはD-3)
D. システム
D-1光伝送システム
D-2光利用システム
D-3レーザエネルギー利用システム
E. 光産業支援・補助
E-1光学機構部品・実験機器
E-2電源・アンプ
E-3製造および加工装置・関連機材
E-4その他周辺部品・装置
E-5受託業務他
E-6ソフト

製品50音順

社名50音順

海外メーカー

評価・解析受託サービス 取扱い企業

光源のニアフィールド配光測定サービス

光源のニアフィールド配光測定サービス

Radiant社のSource Imaging Goniometer®(SIG)は、各種光源の3次元測定が可能な高精度のニアフィールド・フォトゴニオメータです。
光源の輝度分布および色度分布を含めた配光分布と空間分布を測定できるため、高い精度で光源の性能を評価・検証することが可能です。
Radiant社のSource Imaging Goniometers® (SIG) にて極小のLEDチップやLEDの小型モジュールなどのニアフィールド配光測定サービスを提供しています。

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