半球面配光一括検査装置HELIOS（仮称）

拡散照明光学素子等、点光源からの配光分布を　高精度かつ短時間に計測する配光検査装置HELIOS（仮称）を新たに開発しました。
従来のゴニオメーター等を使用する測定方法に対して、半球面を一括計測可能で、高速・連続計測を実現します。その、計測範囲は±85°におよびます。