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Yonata Electronics株式会社は、光通信デバイス／シリコンフォトニクスおよび半導体向けのテスト装置・計測機器を自社開発・製造するメーカーです。次世代AI社会を支える革新的なテストソリューションの提供をミッションに、研究開発から量産まで、測定の高速化・再現性・自動化・トレーサビリティを重視した提案を行っています。

当社の製品ラインアップは、①電気性能テスト（WAT／WLR／SMU）、②高速メモリテスト（DRAM/HBMのATE・KGD）、③高速通信テスト（DCA／BERT／CDR等）、④光チップテスト（LD／PIC／CPO、CoC／バーンイン）をカバー。計測器単体からシステム構築まで一貫してご提案可能です。

電気性能テストでは、fAレベルの電流分解能・nVレベルの電圧分解能に対応した三軸SMUをはじめ、PXIe／ベンチトップの幅広い形態を用意。SCPI対応のATEフレンドリーなアーキテクチャにより、WATやリーク評価が重要な先進デバイス／SiPhの電性試験に最適化しています。

高速通信テストでは、自社開発のキーチップとコアアルゴリズムをベースに、継続的なアップグレードと高いコストパフォーマンスを両立。R&Dによる直接サポートを強みに、TEC、プローブ／フィクスチャ、BERT、VOA、CDR、DCAまで含めたエンドツーエンド構成にも対応します。

光チップテストでは、量産に適したGRRと高い再現性を重視し、−50～125℃の広温度対応、6秒未満のサイクルタイム、CoC／バーンインのワンストップ化（最大4,224ch・完全独立電源、±0.1℃温度制御、ハンドリング成功率99％以上、完全トレーサビリティ）など、量産運用に直結する性能を提供します。

OPIEでは、PXIe／ベンチトップSMUおよび1.6T対応DCA／BERTを実機デモ展示し、用途別ソリューション（LD、CPO、高速ケーブル、WAT/WLR、高速光通信）もあわせてご紹介します。測定時間短縮、ばらつき改善、量産立上げ、規格移行などの課題に合わせ、最適構成と導入ステップをご提案します。ぜひブースへお立ち寄りください。

取扱海外企業

• semight instruments co. ltd