| 住所 | 〒485-0802 愛知県小牧市大草年上坂5823 |
|---|---|
| TEL | 0568-79-3536 |
| FAX | |
| URL | https://www.santec.com/jp/ |
| 設立年 | 1979年 |
| 資本金 | 4,978,560,000円 |
| 従業員数 | 427名 |
| 代表取締役社長 | 鄭 元鎬 |
| 最終更新日：2026年08月25日 |
santecは、1979年に設立されて以来、光産業においてお客様からの品質に対する厳格な要求にお応えしながら、最新技術を用いた光コンポーネント、レーザー製品、及び、光測定器を製造してまいりました。これまで培った技術を進化・応用し、光部品 / 光測定器 / OCTの3つの子会社を展開しております。 santec AOC株式会社：光強度の調整・監視や進路切り替えなど光通信に必要不可欠な光部品の開発・製造をしています。 santec LIS株式会社：光通信部品の開発・製造現場に必要不可欠な光源、並びに、測定システムを開発・製造しています。 santec OIS株式会社：当社の光源技術をOCT(光コヒーレントトモグラフィ)用の光源に応用した製品開発・製造をしています。
WSS-2000は、任意の光スペクトルをプログラム生成できるLCOSベースの光フィルタです。帯域可変、減衰制御、スイッチング、位相制御に対応。次世代光ネットワークの評価・検証に適し、光イコライザ、DWDM/OFDMチャネルフィルタ、WSSエミュレータなど、幅広い光通信の試験・測定に活用できます。
SLM-210は、光学応答速度10 ms以下の高速光制御を実現したLCOS型空間光変調器です。WUXGA（1920×1200）の高解像度と優れた位相安定性、10-bit階調による精密な位相制御が可能。ホログラフィ、波面補正、ビーム整形・操作、バイオセンシング、量子コンピューティングなど幅広い用途に活用できます。
SLM-310は、1064 nm近赤外1 kWレーザーに対応したLCOS型空間光変調器です。WUXGA（1920×1200）の高解像度と高い位相安定性、10bit階調により精密なビーム制御を実現。溶接、穴あけ、切断、金属3Dプリンターなどのレーザー加工におけるビーム整形やマルチビーム制御に活用できます。
SLM-300は、液晶と放熱構造を最適化した高出力レーザー向け空間光変調器です。解像度WUXGA (1920x1200)で、従来比100倍の200Wクラスの高出力レーザーに対応します。水冷ヒートシンクを備えたLCOSヘッドを採用し、532 nm、800 nm、1064 nmの3波長に対応。レーザー加工、3Dプリンター、IC用レーザートリミングなど、各波長帯の高出力レーザーを活用した加工が可能です。
SLM-250は、液晶および光学薄膜構造をUV波長域に合わせて最適化した空間光変調器です。WUXGA(1920×1200)の高解像度と、位相安定性0.003π以下(代表値)の高い再現性を誇り、10-bit(1024階調)の繊細な位相制御が可能です。フォトリソグラフィー、波面補正、光ビーム整形および操作、バイオセンシングなど、UV対応が求められる幅広い応用において、高精度な光制御を実現します。
SLM-200は、LCOS技術を採用したスタンダードモデルの空間光変調器です。WUXGA（1920×1200）の高解像度と優れた位相安定性、10-bit階調により精密な光制御を実現。波面補正、パルス整形、ビーム整形など、研究開発から産業用途まで幅広く活用できます。機器組み込み向けの小型・低コストモデルSLM-20もご用意しています。
高速スキャンと高い安定性を両立した波長可変レーザです。新しい光共振器設計により最大200nm/sの掃引速度制御とサブピコメートルの分解能と精度を備えています。 さらに、新しい密閉型レーザキャビティによりモードホップフリーで、すべての波長で安定した出力を提供します。
波長可変レーザ(TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット (PCU-110) および、専用ソフトウェアを組み合わせた光学特性検査システムです。波長可変レーザーからの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDL/RLなどの光学特性を測定します。
波長可変レーザ(TSLシリーズ)と組み合わせたシステムは、OFDR (Optical Frequency Domain Reflectometry)技術により、光デバイスの後方反射、および、透過特性を空間領域で分析できます。このシステムは5μmの高サンプリング分解能のため、フォトニック集積回路(PIC）、および、シリコンフォトニクス(SiPh)デバイス内の構造を簡単に識別できます。
LLP-100 は、レーザの発振周波数を安定化するためのレーザサーボコントローラで、波長可変レーザ (TSLシリーズ) の発振周波数をユーザ所有の周波数基準器にロックさせることができます。本製品はTSLシリーズに最適化された設計となっていることから、複雑な調整をすることなく、弊社提供のGUIにより容易にTSLの発信周波数を安定化できます。
XCS-100は様々な光測定環境に対応できるように再設計された光測定器システムとなります。コンパクトな1Uハーフラックに統一された光源、アッテネータ、スイッチ、およびパワーメータを任意に組み合わせることがによって、光測定環境に柔軟性や拡張性をもたらします。この拡張可能シャーシシステムの構成方法は多岐にわたるため、一度相談ください。弊社のエンジニアが最適なソリューションを提案させていただきます。
Cateyeレーザ(CEL)は、従来のLittrow型やLittman-Metcalf型設計で使用されるアライメントに敏感な回折格子の代わりに、Cateye反射器と超狭帯域フィルターを採用しています。DFB(分布帰還型)やDBR(分布ブラッグ反射型)ダイオードに匹敵する堅牢な安定性を持ちながら、広範囲の波長可変性、狭線幅、広い波長範囲、低コスト化を実現しています。
"シードレーザ内蔵テーパーアンプ(MSA)は、シードレーザとテーパ型増幅ダイオードを統合したコンパクトで堅牢かつ安定したシステムです。シードレーザには、非常に低い周波数ドリフトと狭線幅を有するMOGLabs製Cateyeレーザを使用しています。
波長範囲：650~1140 nm、光出力：最大5 W"
フィゾー式波長計(FZW)は、Fizeau干渉計をベースにしたコンパクトな波長測定器で、広い波長範囲にわたって再校正なしで信頼性の高い正確な測定が可能です。測定は２秒以内に終了し、結果は本体画面に表示されるため、スタンドアロンでの使用が可能です。MEMS技術を使用したコンパクトな2/4/8チャンネルのファイバースイッチャ(FSW)を利用することで多数の入力をつなぎ変えることなく測定も可能です。
SPA-200は、光ファイバケーブルアセンブリ検査およびフォトニクスデバイス評価に求められる、高精度な反射点・障害点位置検出、微小損失測定、導波路伝搬損失測定を可能にする分析装置です。
測定距離を従来機(SPA-110)の8倍以上となる最大250mまで拡大しました。さらに、新開発の偏波無依存型検出器を搭載することで、非偏波保持デバイスにおける損失測定精度を大幅に向上させています
TSL-580は、santecの第8世代高性能・高速波長可変光源です。新設計のレーザ共振器と制御回路により、高出力（ピーク+15 dBm超）、狭線幅（20 kHz）、優れた波長掃引直線性を実現。シリコンフォトニクス、量子光学、先端センシングなどの研究開発や光デバイス評価において、高精度で安定した測定を支援します。
