光製品ナビ：オプトロニクス社 - 企業情報 - アメテック（株）

アメテック（株）

住所	〒105-0012 東京都港区芝大門1-1-30　芝ﾀﾜｰ3F
TEL	03-4400-2400
FAX	03-4400-2301
URL	http://www.ametek.co.jp
E-mail	ametek-japan.info@ametek.com
設立年	1996年
資本金	95,000,000円
従業員数	150名
代表取締役	望月広輝
	最終更新日：2026年02月18日

企業PR

AMETEKは、年間売上高約66億ドルの電子機器および電気機械装置の世界的なリーディングカンパニーです。AMETEKは世界中の約150の製造拠点で21,000人以上の従業員を抱え、米国およびその他30カ国において100以上の販売・サービス拠点を運営しています。傘下には非球面測定機「フォームタリサーフ」シリーズの計測機器ブランドであるテーラーホブソン社や、「Newview」「Qualifire」等のザイゴ事業部、超精密加工機のプレシテック事業部を揃え、加工から測定までワンストップのソリューションを光学産業のお客様向けにご提供いたします。

取扱海外企業

TAYLOR HOBSON
ZYGO
PRECITECH
Navitar
Creaform
他

アメテック（株）取り扱い製品

三次元光学プロファイラー NewView™ 9000

三次元光学プロファイラー NewView™ 9000

Zygo社製NewView™ 9000は垂直走査型低コヒーレンス干渉方式を用いた非接触三次元光学プロファイラーのハイパフォーマンスモデルです。20年以上にわたり世界中で活用されたNewViewシリーズの最新モデルになります。ZYGOの最新技術・経験・ノウハウを詰めこんだモデルで、あらゆる測定に対応し、簡単かつ高精度・高速に三次元データを取得し、エリア解析することが可能です。

自動アラインメント機能搭載非接触3D形状測定システム LUPHOScan 260 HD

自動アラインメント機能搭載非接触3D形状測定システム LUPHOScan 260 HD

LUPHOScan 260 HDは、非球面、球面、平面、自由曲面などの回転対称形状および非回転対称形状の光学面に対し、超高精度な非接触3D形状測定を行う世界をリードする測定機です。このシステムの主な特長は、中心部が平らなパンケーキ形状や大きな非球面量を持つ形状など、測定が難しい表面にも柔軟に対応しつつ、高速に測定できることです。また、最大260ｍｍまでの大きな対象物を測定することが可能です。

Qualifire™ 次世代レーザ干渉計

Qualifire™ 次世代レーザ干渉計

長年世界トップのシェアを誇るZYGOの完成されたフィゾーレーザー干渉計がさらなる進化を遂げました。最新レーザ干渉計Qulifireは、従来のVerifireの優れた機能を継承し、新機能と新たな特徴を携え、確かな品質と信頼性をご提供します。

高精度・高速非接触3D形状測定システム LUPHOScan 75 HD

高精度・高速非接触3D形状測定システム LUPHOScan 75 HD

世界最速かつ最高精度の小径レンズ向け全自動非接触3D形状測定システム。超高速、自動で光学レンズの3D形状を測定。全自動のセンタリング＆レベリングテーブルを搭載し、アラインメント・測定・分析をワンクリック120秒以内に完了。LUPHOScan 75 HDはより高速な測定サイクルタイムと完全自動化を実現しつつ、ハイレベルな3D解析を提供します。量産現場においてもラボレベルの正確な結果を実現します。

ZYGO Compass™

ZYGO Compass™

　ZYGO の Compass™ 度量衡システムは自動化された、非接触 3D 表面度量衡のベンチマークを設定し、自動車視覚システムおよびスマートフォンやタブレットのカメラなどの、小型画像システムに不可欠の個々のマイクロレンズや鋳型に対する制御を処理します。
　マイクロレンズ表面形状および偏差、トポグラフィー、および関係/寸法パラメータの正確な度量衡向けの高度なソリューションです。球面または非球面マイクロレンズおよびその整列機能の包括的な特徴が必要なアプリケーションには理想的な選択です。

大口径レンズ高精度・高精度非接触3D測定機 LUPHOScan 850 HD

大口径レンズ高精度・高精度非接触3D測定機 LUPHOScan 850 HD

非接触による高速かつ高精度で3D形状のプロファイリングを可能にする、光学部品の測定に大きな変化を起こしたLUPHOScanシリーズに「LUPHOScan 850 HD」が登場しました。大口径レンズの測定において、高精度と汎用性、使いやすさを両立。測定可能エリアは平面でφ850mm、耐荷重は最大350kg、測定精度<λ/20を実現しました。

レーザー干渉計 Verifire MST

レーザー干渉計 Verifire MST

1970年の設立されたZYGO社は、平面研磨に始まりそれを検証する手段としてレーザー干渉計を開発し、表面形状計測のリーダーとしての役割を維持しています。何千台もの干渉計が世界中に設置され、正確な測定のツールとして信頼を得ています。Verifire MST はZygo社独⾃技術であるFTPSIにより平⾏平板など裏⾯反射が発⽣するワーク測定も可能な装置です。表裏⾯の同時計測、光学厚みバラつき、ホモジュニティ測定などに対応しています。

レーザー干渉計 Verifire™ VTS

レーザー干渉計 Verifire™ VTS

Verifire™VTS干渉計システムは、球面光学系の安定した堅牢な表面形状と曲率半径測定用に設計された、スタンドアロンの上向き干渉計ワークステーションです。
この完全に統合されたターンキーシステムは、1 mのエンコードされた移動量を備えた電動Z軸ステージを備えており、部品の位置決めを簡素化し、曲率半径の自動測定を可能にします。システムは、4インチのVerifire™、または現在の4インチまたは6インチのVerifire™HDまたはDynafiz®干渉計を使用して構成できます。コンパクトなフットプリントで、生産現場作業に最適なシステムです。

ファストツールサーボ FTS 5000

ファストツールサーボ FTS 5000

新しいファストツールサーボ「FTS 5000」を開発し販売することになりました。一般的に、FTS加工の特長は、導光板、トーリックレンズ、コンタクトレンズ、レンズアレイ等を高速に加工し、スローツールサーボ（STS）のような3軸同期加工より、10~15倍速く加工出来ます。新製品「FTS 5000」は、ストロークが5000μmと現行品の5倍以上、最大加速度が40Gと現行品の2倍で、加工の短縮化、より複雑な形状の加工が可能になります。

最大４軸用小型超精密加工機「Nanoform X」

最大４軸用小型超精密加工機「Nanoform X」

本機は光学レンズ、光学レンズ金型、超精密機械部品等の様々な加工(ダイヤモンド切削、フライス加工、研削加工等)が可能です。最大4軸までの構成で球面面、非球面、自由曲面（最大440mm）の加工ができます。

５軸用小型超精密加工機「Freeform X」

５軸用小型超精密加工機「Freeform X」

最大４軸用小型超精密加工機「Nanoform X」と５軸用中型超精密加工機「Freefrom L」開発で培った経験を活かして、５軸用小型超精密加工機「Freefrom X」を開発しました。本加工機の主な用途は、下記のとおりです。
－　軍事、セキュリティ用の高精度赤外線用光学部品
－　複雑形状のAR用光学部品
－　ヘッドライトやHUD等の車載用光学部品

Verifire™ Asphere+

Verifire™ Asphere+

Verifire™ Asphere+ (VFA+) は、フィゾー干渉計の利点を活用して、軸対称非球面の精密、高解像度、高速、フルアパーチャー計測の独自の組み合わせを提供します。VFA+ は、透過型球面原器を変更するだけでさまざまな軸対称非球面を測定するための柔軟な計測プラットフォームを提供します。 VFA+ には、コンピュータ生成ホログラム (CGH) をサポートするオプションのステージが装備されており、非球面形状機能を非対称自由形状および軸外非球面光学系に拡張します。

広視野高NA　HR対物レンズ

広視野高NA　HR対物レンズ

高NA使用対物レンズ、同社製チューブレンズとの組み合わせにより大型エリアセンサーにも対応。広視野、高解像度撮影を実現。

特長
・超高NA仕様
・無限遠補正
・明視野観察用
・同焦点距離95mm設計 (M26マウント)・
主な仕様
4x：NA0.2(既存　5X相当)　WD20mm
６X；NA 0.3(既存10X相当) WD25mm
10x：NA0.4（既存　20X相当）WD10mm

量子工学　研究向け　カスタム対物レンズ

量子工学　研究向け　カスタム対物レンズ

量子工学や量子研究に使用されるカスタム対物レンズです。
様々な波長に対応した回折限界設計で、色収差などを極力抑えた設計で、多数の経験と実績を持っています。
設計ー製造まで短期間で行うノウハウもございます。

プラネタリウム・シミュレーション用プロジェクションレンズ

プラネタリウム・シミュレーション用プロジェクションレンズ

大型スクリーン、ドーム、プラネタリウム用のプロジェクションレンズです。

ZeFlat™ 大面積平坦度測定用白色干渉計

ZeFlat™ 大面積平坦度測定用白色干渉計

大口径低倍対物レンズと高解像度センサーを組み合わせることにより、φ60mmの大面積を数秒で測定可能です。また、積層した複数の透明樹脂・ガラス層などの厚み、ギャップ、形状を1回の測定で同時に評価可能です。主な応用アプリケーションは、スタック構造のウェーブガイドなど光学・フォトニクス製品、反り・歪みを高速に評価する必要のある半導体ウエハー、平坦度や中空間周波数特性の解析が必要な精密加工品などです。

Qalifire2.3™ 多層積層平面測定レーザー干渉計

Qalifire2.3™ 多層積層平面測定レーザー干渉計

ショートコヒーレンス技術を応用し、最薄50μmまでの光学厚みの多層構造でも、1回の測定で評価が可能です。また、同一光学厚みを持つ複数面の同時測定も可能です。高解像度カメラによる高い傾斜追従性と低反射条件下での感度向上により、20 層以上の多層構造も 1 回の測定で評価可能なため、光学・フォトニクスはもちろん、半導体、マイクロエレクトロニクス、ディスプレイなどの幅広い分野で応用可能です。

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