温度を制御した状態でLDのI-L、FFP、波長、偏光比の測定が可能な特性評価装置です。治具の変更により様々な形状の素子が測定可能で、電流範囲や温度制御範囲は相談に応じて対応可能です。
透過光源による高速、高密度で蛍光体材料のマッピング評価を行える装置です。100×100mmエリアもしくは最大4インチの測定、角度依存性(直角、45°)、透過率測定が可能です。
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