| 住所 | 〒108-8011 東京都港区港南2-13-29 |
|---|---|
| TEL | 03-3740-3334 |
| FAX | 03-3740-3346 |
| URL | http://canon.jp/ |
| チーフ | 青木祐太 |
| 最終更新日：2026年02月16日 |
OPIE '26 出展の見どころ
①米国Apre社のレーザー干渉計S100とSCI光源の実機展示
S100|４MP干渉計と、干渉距離を制御可能なSCI光源用いて、曲率半径計測(RoC)を実演。
②独国GBS社の非接触3次元光学プロファイラーsmart WLIシリーズ nimbus8及びfireboltの実機展示
新製品となるnimbus8を用いた金属加工面の表面性状の計測実演と、fireboltを用いた”瞬間計測”を実演予定。
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キヤノンマーケティングジャパン株式会社 産業機器事業部 第二営業本部 では、海外メーカーの最先端の計測機器・分析機器、キヤノン製コンポーネント、3Dプリンタ等の販売及び技術サポートを行っています。
レンズ設計・製造展では、米国Apre社のレーザー干渉計展示と独自技術の特殊光源によるデモンストレーション、独国GBS社より新製品の白色干渉計を実機展示いたします。
・Äpre Instruments [米] ： ÄPRE干渉計Sシリーズ、干渉計アップグレード、REVEALソフトウエア、
各種光源オプション、SpectrÄ(SCI光源、周波数制御干渉法)、ÄTLas(波長変調レーザー光源)
・DIOPTIC [独] ： 回析光学素子（シリンダー面、非球面の計測のための干渉計オプション）
・GBS [独] ： 光学式3次元表面プロファイラーsmartWILシリーズ（白色干渉方式の三次元表面性状の計測機）
取扱海外企業
- Apre Instruments,Inc. (USA)
- GBS mbH (Germany)
