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キヤノンマーケティングジャパン(株)

住所 〒108-8011
東京都港区港南2-13-29
TEL 03-3740-3334
FAX 03-3740-3346
URL http://canon.jp/
E-mail keisokubunseki@canon-mj.co.jp
課長 余語俊一
  最終更新日:2024年02月27日

OPIE '25 出展の見どころ

①米国アプレ社の"SCI光源" + "Sシリーズ干渉計"の実機展示
S100|4MP 干渉計とSCI光源で、平行平面板の表面測定及び内部干渉縞(表裏面)の測定を実演。
②独国GBS metrology社の非接触3次元形状測定機/白色干渉顕微鏡"smartWLI extended range"の実機展示
金属加工面の表面性状の計測を実演。
③キヤノン株式会社のデジタルガルバノスキャナーの実機展示

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キヤノンマーケティングジャパン株式会社 産業機器事業部 第二営業本部 では、海外メーカーの最先端の計測機器・分析機器、キヤノン製コンポーネント、3Dプリンタ等の販売及び技術サポートを行っています。以下、メーカー毎の代表的な取り扱い製品を紹介します。

・Äpre Instruments [米] : ÄPRE干渉計Sシリーズ、干渉計アップグレード、REVEALソフトウエア、
各種光源オプション、SpectrÄ(SCI光源、周波数制御干渉法)、ÄTLas(波長変調レーザー光源)
・DIOPTIC [独] : 回析光学素子(シリンダー面、非球面の計測のための干渉計オプション)
・GBS [独] : 光学式3次元表面プロファイラーsmartWILシリーズ(白色干渉方式の三次元表面性状の計測機)
・Sigray [米] : XRF (蛍光X線装置)、nanoXRM (X線CT装置) 、XAS (X線吸収分光法装置)、microXRM (X線CT装置)
・キヤノン株式会社: ガルバノスキャナ、エンコーダ、レーザードップラ速度計、表面反射アナライザ、非接触測長計、エアベアリング、石英ナノ加工、CMOSイメージセンサー、マシンビジョン(2D , 3D )
・3D Systems [米] : 金属粉末焼結3Dプリンタ(DMP)、樹脂粉末焼結3Dプリンタ(SLS)、光造形3Dプリンタ(SLA)    
・KAEL [韓] : ケミカルフィルター(半導体各種製造装置向け)

取扱海外企業

  • Apre Instruments,Inc. (USA)
  • GBS mbH (Germany)
  • DIOPTIC (Germany)
  • Sigray (USA)
  • 3D Systems (USA)
  • KAEL (Korea)

キヤノンマーケティングジャパン(株) 取り扱い製品

Äpre社 干渉計 Äシリーズ/ Sシリーズ

Äpre社 干渉計 Äシリーズ/ Sシリーズ

「厳格なスペック管理で製造されたハイエンドなレーザー干渉計」
主な特長
・直接カメラに干渉縞を結像することで得られる高解像度
・CNC補正研磨で効果を発揮する少ない画像歪み(ディストーション)
・計測面が蹴斜している場合に発生するリトレースエラーを最小化
・He-Ne光源に加えて、SCI光源、波長変調光源、特殊光源も追加可能
・直観的で視認性の高いソフトウエア(従来のソフトウエアとの互換性あり)

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Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

Äシリーズ/Sシリーズ干渉計のオプション光源:SCI光源
「多重干渉が発生するパーツ、薄い透明基板に新しい計測ソリューション」
優位性
・レーザー光源では多重干渉が発生するパーツで、任の距離の干渉縞を生成
・厚さ<100μmの基板の内部干渉縞(表裏面)計測
・光源のスペクトル制御で位相シフト測定
主な仕様
・最小光学距離:150μm
・最大光学距離:2000mm
・可干渉深度:150μmから1mm

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GBS metrology社 3次元光学プロファイラー smartWLI シリーズ

GBS metrology社 3次元光学プロファイラー smartWLI シリーズ

「高速カメラと大規模並列データ処理によるハイエンド白色干渉計」
主な特徴
・三次元表面性状の国際規格ISO25178-604に準拠
・GPGPUを使用した超並列/超高速処理で測定時間と解像度を強化
・低ノイズで超平滑面の計測に有効なHD-EPSIアルゴリズムを搭載
・超高速プレスキャン機能を活用した”うねりのある超平滑面"の高速計測
・高精度なステッチングを実現するアルゴリズム

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【参考出展】高応答デジタルガルバノモータ

【参考出展】高応答デジタルガルバノモータ

【参考出展】
応答性:60%UP ※同条件におけるGM-2010との比較
応答性を大幅に向上した新シリーズ
高い分解能を保持したまま応答性の向上を実現

想定アプリケーション
・レーザー穴あけ
・レーザーマーキング
・微細加工      等

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【参考出展】大口径レーザ光向け デジタルガルバノモータ

【参考出展】大口径レーザ光向け デジタルガルバノモータ

【参考出展】
最大レーザ入光サイズ:φ40mm
最大速度:75%UP ※同条件におけるGM-2020との比較

高精度/高分解能を誇るGM-2000シリーズに新たなモータをラインアップ
デジタル式の高精度を実現しながら、大口径レーザ光に対応
熱的安定性と微小レーザスポットによる高精度加工を実現

想定アプリケーション
・3Dプリンタ
・レーザー溶接
・微細加工      等

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非接触測長計 PD-704

非接触測長計 PD-704

非接触式で生産ラインの搬送物の移動量や速度を高精度に測定できる計測機器です。生産ラインの送りをモニタリングすることで、材料や部品などの効率的な搬送と生産性向上に貢献します。また、キヤノン独自のプロファイルマッチング方式を採用し、対象物の加速度100Gまで追従が可能。プレス現場など急加減速が発生するような生産ラインでも高精度に安定した測定を実現します。光源には白色LEDを採用しており安全にご使用いただけます。

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DIOPTIC社 光学回折素子(DFNL、DTS、DTC)

DIOPTIC社 光学回折素子(DFNL、DTS、DTC)

レーザー干渉計に取り付ける“回折光学素子”により、あらゆる形状の量産計測を非接触・短時間に実現。​

DIOPTIC社製光学回折素子(DFNL、DTS、DTC)は、従来の“TS(球面原器)”と同じ使い勝手で使用が可能。       

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キヤノン 受託微細加工サービス

キヤノン 受託微細加工サービス

キヤノン製KrFスキャンニングステッパーと半導体プロセス装置を活用し、試作・開発から量産までお客様のご要望される微細加工を実現します。
石英,Siなど多様な基板の加工が可能です。
充実した設備と熟練のスタッフによる自社一貫工程で、試作から量産まで、皆さまの新技術・商品開発に貢献します。まずはお気軽にお問い合わせください。

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5M グローバル電子シャッタ CMOSセンサー

全画素を同時に露光するグローバルシャッター機能を搭載したCMOSセンサーです。

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1.2億 超高精細 CMOSセンサー

フルHDの約60倍にあたる1億2000万画素の超高精細CMOSセンサーです。

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35mmフルサイズ 超高感度CMOSセンサー

低照度の環境でも鮮明な動画撮影が可能な、超高感度のCMOSセンサーです。

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