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代表取締役社長 | 堤 浩一 |
最終更新日:2025年09月09日 |
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弊社は非接触・非破壊で薄膜やバルクを測定・解析する分光エリプソメーターの専門メーカーです。真空紫外から遠赤外までの広い波長範囲をカバーする世界一多種な装置と、様々な産業および研究分野での応用例をご紹介いたします。