住所 | 〒169-0051 東京都新宿区西早稲田2-14-1 |
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TEL | 81-3-5285-0861 |
FAX | 81-3-5285-0860 |
URL | https://www.japanlaser.co.jp/ |
jlc@japanlaser.co.jp | |
設立年 | 1968年 |
資本金 | 30,000,000円 |
従業員数 | 73名 |
代表取締役社長 | 宇塚達也 |
最終更新日:2025年02月17日 |
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日本レーザーは、50年以上の実績をもつ
┏┓ レーザー専門商社の草分けです
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長年にわたるレーザー関連の情報収集力と、企画・設計・開発を含めた高い技術サポートで、多様なニーズに迅速にお応えします。 最先端の理科学用から汎用性の高い装置まで、世界のトップクラスメーカーのバラエティーに富んだ製品を取り扱っています。また応用分野における技術的提案はもちろん、海外製品を不安なくお使いいただくためのユーザーサポートも重視。アグレッシブな“インテグレーティッド・ライト・ソリューション”を提供いたします。
〓〓〓〓〓 ◆◇ 取 扱 製 品 ◇◆ 〓〓〓〓〓
【レーザー・光源】 固体レーザー(DPSS, ランプ励起YAG 等)、ガスレーザー(CO2, HeNe 等)、ファイバーレーザー(CW/パルス, ハイパワー 他)、半導体レーザー(LD/LED, 多波長, 白色光源 他)、チューナブルレーザー(狭線幅, 低ノイズ 他)、中赤外光源、テラヘルツ光源
【光学機器・周辺機器】 オプトメカニクス(光学マウント、モーションコントロール、除振台、ステージ等) 保護メガネ&ウィンドウ ファイバーケーブル/コンポーネント オプティクス(レンズ、ミラー、フィルタ、光アイソレータ等) LDドライバ、LD電源 周辺エレクトロニクス(変調器、スタビライザ等)
【関連機器】 ビーム計測・評価(パワー、エネルギー、ビームプロファイルなど)、光制御(光源コントローラ、温度制御、パルス制御等)、偏波計測・制御、位置決め機器(手動/電動モーションコントロール)、光源電源、フォトディテクタ変位センサ
【検査・解析装置】非破壊検査、欠陥検査、異物検査、成分分析、PV関連、表面・薄膜物性、機械・電気物性
【測定装置】分光計測、変位測定、表面粗さ・形状測定、PIV、粒度分布、蛍光寿命・単一光子検出、温度計・熱放射率
【イメージング装置】IRカメラ、溶接可視化、流体可視化、分光イメージング、テラヘルツイメージング、電子線イメージング、AFM, SPM、バイオイメージング
【加工応用装置】ナノインプリント、ディスペンサ、レーザー・リソグラフィ、レーザー微細加工、高精細3Dプリンタ、レーザークリーニング、加工用ソフトウェア
取扱海外企業
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- Amplitude Systemes
- Amplitude Technologies
- AppNano
- attocube systems
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- Bristol Instruments
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- Cellbox solutions
- Conoptics
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- KSI (Kraemer Sonic Industries)
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- 株式会社エンジニアリング・ラボ
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- 浜松ナノテクノロジー株式会社
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